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顺德北滘镇接地导通电阻测试仪-测量仪器校正检

作者:万搏体育 来源:本站原创 日期:2021-03-03 04:02 点击: 

  顺德北滘镇接地导通电阻测试仪-测量仪器校正检定计量所然后写入控制字,产生相应通道号,实现垂直分辨率的调整。该模块为RAM模块的写地址累加器,可控制波形的存储。H_sering为单次和多次触发控制引脚,当为高电平时,单次触发,停止向RAM写入数据,所显示波形为存形;为低电平时,多次触发,当检测到一次触发时,即向RAM写一次数据,共lK个点,并在写操作时屏蔽触发。写地址先写奇地址,存入通道一采样后的波形数据,后写偶地址,存入通道二采样后的波形数据。如果连续多次检测不到触发时,向RAM中写入全0,显示一条直线,即实现自动捕捉功能。波形存储控制模块如图5所示。该模块为读地址累加器,从RAM中读取数据,并产生行扫描和列扫描数据。通过单片机写入累加器基地址。

  主程序流程如图 3.1:调用按键扫描程序读取键值,如果是KEY1键按下则启动测量,调用湿度测量函数测量湿度,并根据测量结果进行相应播放;如果不是KEY1键按下,返回继续扫描按键。sjdiohgofs

  顺德北滘镇接地导通电阻测试仪-测量仪器校正检定计量所一般数字示波器采用的都是8位ADC,对任何一个波形值都是用256个0和1来重组。假设示波器垂直方向满量程为8格,对应量化级数256。在垂直档位为500mV/div的情况下,垂直精度为(500mV*8)/256=15.625mV。测量同一个信号,在垂直档位为50mV/div的情况下,即(50mV*8)/256=1.5625mV,垂直精度就达到了1.5625mV。在实际测量中,由于测量波形的幅值不一样,故垂直档位设置也会不一样,但是为了尽量使测量准确,使测试信号幅值尽量占到屏幕6div左右。例如一个峰峰值为7Vpp的正弦波,垂直档位应设为1V/div,而不是2V/div或5V/div。实际上,这涉及到一个电压分辨率的问题。

  注意:在每次测量前都会关断快速中断FIQ,这是因为在测量过程中用到了定时/计数器TimerA,而在语音播放时打开了FIQ中断,所以在测量前需先关闭,以免在测量过程中CPU一直相应FIQ中断,造成不必要的麻烦。

  一种相当简单的方法就是将阻抗的测量值和预测值比较以便得出某种结论。这种工作原理的一个实例就是一种采用涡流原理的金属检测传感器。在位于传感器外壳的线圈中产生一个高频交流信号。该线圈产生的电磁场在导电靶中感应出涡流。反过来这个涡流与该传感器线圈相互作用,所以改变了其阻抗。

  顺德北滘镇接地导通电阻测试仪-测量仪器校正检定计量所k∈Z图3右侧表示x(n)卷积u(k)的结果。其中横坐标表示采样点数共1024个点,纵坐标表示幅值。信号调节模块主要设计完成信号的垂直增益,垂直位移,水平增益的调节。设计的具体实现也是通过C语言对数组的操作实现。图4表示信号调节模块程序流程图。真实示波器由于存储硬件的限制,只能存储2~4个数据,而在在的数字存储示波器中,利用硬盘等存储介质,可以任意存取无限多个数据,而且存储更加安全。具体实现方法是:存储对被测信号取样,然后转换成数组,再将数组保存到文件中,读取时恰好相反,其工作流程如图5所示。按照LabWindows/CVI的设计流程,我们完成示波器的设计,并对正弦信号进行采样分析,仪器的主要问题就是仪器的仿真。

  本文阐述了电子式多功能电能表的设计方法、硬件设计的技术关键和软件设计流程。并以NEC的μPD78F0338单片机为例,实现了一款具有四种费率、六条负荷曲线和两套费率结构的三相四线电子式多功能电能表

  指针式电测以其价格低,可靠性高,安装、更换简便等优点在工业检测过程中被广泛使用。对电测仪表的定期检定是保证其正常工作的重要手段。但是传统的手工检定方法,过程繁琐、工作量大,存在着由于人工读数而降低了检定精度的不足。

  顺德北滘镇接地导通电阻测试仪-测量仪器校正检定计量所但是在功能上,74LS00芯片为双输入四与非门,而74LS08芯片为双输入四与门。这就意味着,当两者的输入值相同时,芯片功能正确情况下的输出值应该正好相反。这样的输入输出关系可以用来模拟74LS08芯片的全故障情况。这时,用户需要把74LS00芯片锁入测试插槽,点击“开始测试”后的界面如图4所示。此时,如果被测芯片依然为74LS00芯片,而从上位机的数据库中重新调入74LS00芯片的测试信息进行测试,其测试结果则显示为“该芯片功能测试全部通过”.其显示界面如图3所示。由此可以验证,测试系统对芯片功能故障的判断十分准确,并且测试系统可以准确的识别存在故障的测试矢量位置,以便于用户进行进一步的分析。并在数据库中建立几款不同被测芯片的测试数据。(2)在芯片型号检索对线”型号后,点击“确定”按钮即可完成芯片检索的流程。(3)自动测试模式下,系统将调用数据库中被测芯片的完整测试数据,并且完成整个测试集的循环测试。(4)打开系统的串口后,用户需要将被测芯片放入测试插槽中,然后锁死插槽以确定被测芯片的引脚与插槽接触良好。这时只需要点击“开始测试”,系统就会自动进行循环测试。在系统插槽中放入74LS08芯片后的测试结果显示“该芯片功能测试全部通过”,其显示如图3所示。本文以74LS00芯片模拟74LS08芯片的故障片来进行一次故障测试,以验证测试系统对故障的识别。由74LS00芯片和74LS08芯片两款芯片的引脚数与引脚分布方式是一样的。

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